3.1.1.3 缺点：噪声敏感、易受工艺偏差影响

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3.1.1.3 缺点：噪声敏感、易受工艺偏差影响 3.1.1.3 缺点：噪声敏感、易受工艺偏差影响想象一下，你正调试一款模拟神经形态芯片，芯片上运行着一个简单的图像识别任务。突然，测试结果显示，网络在噪声环境下准确率从95%直线坠落到65%。膜电位曲线像喝醉的舞者，东摇西晃，突触权重仿佛被无形的手随意拨弄。这不是科幻，而是我们这些模拟神经形态电路工程师的日常噩梦：噪声敏感和工艺偏差，这两个“隐形杀手”常常让精心设计的类脑电路在真实世界中现出原形。我曾在一家初创公司主导一款基于28nm CMOS工艺的模拟SNN（Spiking Neural Network）芯片项目。