2.2.8 X射线荧光光谱法 (XRF)

文档摘要

2.2.8 X射线荧光光谱法 (XRF) 2.2.8 X射线荧光光谱法 (XRF) X射线荧光光谱法（X-ray Fluorescence Spectroscopy, XRF）是一种广泛应用的元素分析技术，尤其适用于对固体、液体、粉末等多种形态样品进行无损或微损的定性和定量分析。它基于样品中元素在受到高能X射线激发后发射出具有特征能量（或波长）的荧光X射线这一物理现象。XRF技术因其分析速度快、样品制备简单、可同时分析多种元素等优点，在材料科学、地质学、环境科学、考古学、艺术品鉴定、工业质量控制等众多领域发挥着重要作用。 2.2.8.1 基本原理 XRF光谱法的基础是原子内层电子的跃迁。