3.4.1 多元散射校正 (Multiplicative Scatter Correction...

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3.4.1 多元散射校正 (Multiplicative Scatter Correction, MSC) 3.4.1 多元散射校正 (Multiplicative Scatter Correction, MSC) 引言在近红外 (NIR) 和中红外 (MIR) 反射光谱测量中，特别是对于固体粉末、颗粒或粗糙表面样品，光的散射效应是一个普遍存在且显著的问题。散射是由样品表面的不均匀性、颗粒大小、堆积密度以及光在样品内部传播时发生的多次折射和反射引起的。这些散射效应会导致光谱的基线发生偏移（加性效应）和整体强度发生缩放（乘性效应），从而掩盖样品真实的化学吸收信息，降低光谱的可比性和后续定量或定性分析的准确性。因此，在进行光谱分析之前，必须对散射效应进行有效的校正。