4.4.2 熔融键合与共晶键合


文档摘要

4.4.2 熔融键合与共晶键合 在微机电系统(MEMS)、先进封装、异质集成与三维芯片堆叠的工程实践中,键合技术从来不是一道“选择题”,而是一道必须答对的“生存题”。当两片硅晶圆、一片硅与一片玻璃、甚至硅与压电陶瓷或金属基板被要求在原子尺度上实现无缝连接——既不能引入应力畸变,又需承受后续200℃以上的工艺热预算;既要保证界面无空洞、无杂质污染,又要满足数十年服役期内的机械与热循环可靠性——此时,“熔融键合”(Fusion Bonding)与“共晶键合”(Eutectic Bonding)便从教科书里的名词,跃升为洁净室中工程师凌晨三点反复调试温控曲线、校准腔体压力、重跑键合recipe时手心渗出的汗珠。


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