4.2.3 可测性设计（DFT）：Scan Chain, MBIST, Boundary Scan

文档摘要

4.2.3 可测性设计（DFT）：Scan Chain, MBIST, Boundary Scan 在数字芯片设计的浩瀚星图中，若把功能验证比作对飞船航迹的反复校验，那么可测性设计（Design for Testability, DFT）就是为这艘飞船预埋的“检修舱门”、内置的“自检探针”与可远程操控的“诊断总线”。它不参与正常飞行逻辑，却在故障初现端倪时，成为唯一能穿透硅基迷雾、直抵晶体管级病灶的手术刀。而当我们在4.2.