文档摘要

4.3.1 自发热效应 (Self-Heating Effect, SHE) 的物理热模拟 “热不是敌人，是沉默的证人”：一个FinFET芯片在28GHz频段下自发热失控的深夜调试手记 凌晨两点十七分，实验室的示波器屏幕还亮着幽蓝的光。我盯着那条本该平滑的$S{21}$参数曲线——它在7.3dB增益处突然塌陷，像被一只无形的手掐住了咽喉。 会员。《4.3.1 自发热效应 (Self-Heating Effect， SHE) 的物理热模拟》收录于灏天文库文集《FinFET技术原理》，提供技术教程、实践指南与问题解决方案，支持在线阅读、全文检索与知识沉淀，助力开发者系统化学习。文档编号57126。

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