4.3.3 偏置温度不稳定性 (BTI) 导致的性能退化

文档摘要

4.3.3 偏置温度不稳定性 (BTI) 导致的性能退化 “它明明刚出厂时跑分亮眼，怎么三年后连启动都卡顿？”——一位芯片验证工程师在客户现场拆解一颗失效SoC时，盯着那颗封装完好却性能腰斩的28nm CPU核心，说出了这句让整个FA实验室沉默三秒的话。这不是老化，不是封装失效，也不是热应力裂纹。这是偏置温度不稳定性（Bias Temperature Instability, BTI）在沉默中完成的谋杀——没有爆炸，没有冒烟，没有报错日志；只有一群阈值电压 $V\text{th}$ 悄悄上移、一群驱动电流 $I\text{dsat}$ 默默萎缩、一串关键路径延迟 $\Delta t{\text{path}}$ 在年复一年的高温偏置下，无声地越过时序悬崖。