8.3.1 辐射发射（RE）与抗扰度（RI）优化

文档摘要

8.3.1 辐射发射（RE）与抗扰度（RI）优化在电磁兼容性（EMC）工程实践中，辐射发射（Radiated Emission, RE）与辐射抗扰度（Radiated Immunity, RI）从来不是一对孤立的“测试项”，而是一对彼此咬合、相互制衡的齿轮——RE是系统向外“吐”的噪声，RI是系统向内“吞”的干扰；一个管输出，一个管输入；一个关乎合规底线，一个决定生存上限。当某款工业控制器在30–200 MHz频段连续三次被EMC实验室退回，整改周期拖至17周，产线停摆损失超千万时，工程师才真正读懂这句话：RE超标，是设计缺陷的显影液；RI失效，是防护逻辑的断点图。二者不可割裂，更不能靠“加屏蔽罩+贴铜箔”这种经验主义止痛药来糊弄。