文档摘要

4.1 运放性能指标：把手册翻译成设计语言 本节摘要：运放指标分静态与动态两组。静态组：直流开环增益（典型60到100分贝）、输入失调（1到10毫伏，版图与斩波可压到微伏级）、输入参考噪声（10到100纳伏每根号赫兹）、共模抑制与电源抑制（60到100分贝）。动态组：增益带宽积（单位增益频率，几兆赫兹到几百兆赫兹）、摆率（每微秒几伏到几百伏）、建立时间（与相位裕度和负载相关）。本节逐项给出口径、量级与设计旋钮的对应关系。 会员。《4.1 运放性能指标：增益带宽积与摆率的数字口径》收录于灏天文库文集《CMOS模拟集成电路设计》，原作者/来源：灏天文库，整理自「灏天文库」，提供技术教程、实践指南与问题解决方案，支持在线阅读、全文检索与知识沉淀，助力开发者系统化学习。本站整理收录，版权归原作者/开源协议所有。

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作者与出处

原作者： 灏天文库

来源：灏天文库

原文： https://aiknowledge.cn/collection/846-cmos%E6%A8%A1%E6%8B%9F%E9%9B%86%E6%88%90%E7%94%B5%E8%B7%AF%E8%AE%BE%E8%AE%A1

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