1.3.1.1 极高密度(Density):理论存储极限与物理空间占比


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1.3.1.1 极高密度(Density):理论存储极限与物理空间占比 密度不是参数,是战场——一个SSD控制器工程师的密度攻坚手记 凌晨两点十七分,机房空调低沉的嗡鸣声里,我盯着示波器上那条微微颤抖的Vpp波形线,手指悬在FPGA烧录按钮上方,迟迟没有按下。这不是第几次重烧了?第七次?第八次?——不重要。重要的是,这一次,我们终于把NAND通道的页编程时间(tPROG)压到了128μs,比JEDEC标准极限低了整整23%,而更关键的是:在单Die封装内,我们让64层堆叠的TLC闪存,在1.2mm²物理面积上稳定跑出了每秒987MB的顺序写吞吐——且误码率(UBER)维持在1.2×10⁻¹⁵量级。 这不是实验室里的纸面数据。


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