文档摘要

2.3 可测试性设计 DFT 本节摘要：芯片内部状态默认看不见。DFT 在网表里植入可控制与可观测通路，让自动测试向量能把卡住故障和跳变故障赶到输出。扫描链是神经传导，ATPG 是出题引擎，BIST 把部分考场搬到片上。测试不是封装后的质检，是设计基因。 会员。《2.3 可测试性设计DFT》收录于灏天文库文集《VLSI超大规模集成电路设计》，原作者/来源：灏天文库，整理自「灏天文库」，提供技术教程、实践指南与问题解决方案，支持在线阅读、全文检索与知识沉淀，助力开发者系统化学习。本站整理收录，版权归原作者/开源协议所有。

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作者与出处

原作者： 灏天文库

来源：灏天文库

原文： https://aiknowledge.cn/collection/854-vlsi%E8%B6%85%E5%A4%A7%E8%A7%84%E6%A8%A1%E9%9B%86%E6%88%90%E7%94%B5%E8%B7%AF%E8%AE%BE%E8%AE%A1

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