11.1.1 显微分析（SEM, TEM, AFM, STM）

文档摘要

11.1.1 显微分析（SEM, TEM, AFM, STM）显微分析：在原子尺度上“触摸”物质的四种手——SEM、TEM、AFM、STM的工程实现全景图你有没有想过，当一滴水珠在荷叶表面滚落时，它究竟是在与多少个纳米级凸起“擦肩而过”？当一块铜箔在锂电负极中反复嵌脱锂后，其表面那层几纳米厚的SEI膜，到底是连续致密的玻璃态，还是布满微孔与晶界裂隙的蜂窝结构？这些问题的答案，不在宏观世界的目测与手感里，而在四台精密仪器所构筑的“感官延伸系统”中：扫描电子显微镜（SEM）用高能电子束“照亮”形貌轮廓；透射电子显微镜（TEM）让电子“穿体而过”，直击晶体内部的原子列排布；原子力显微镜（AFM）则以一根悬臂梁为指尖，在范德华力的牵引下“抚摸”表面起伏；