5.3.2 电源网络(IR-Drop)仿真与电迁移(EM)分析


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5.3.2 电源网络(IR-Drop)仿真与电迁移(EM)分析 在高速数字系统设计的深水区,电源网络从来不是一张安静的“背景板”——它是一条奔涌的电流河,是芯片内部最沉默却最暴烈的脉搏。当SoC主频突破3GHz、核心电压跌至0.7V、瞬态电流峰值超过15A/μs、金属层线宽逼近2nm工艺节点时,IR-Drop不再是一个可被经验公式粗略估算的压降值,而是一场在纳秒尺度上演的电磁风暴;电迁移(Electromigration, EM)也不再是封装厂实验室里的加速寿命测试项目,而是决定一颗高端AI加速器能否在数据中心连续运行五年不宕机的生死判据。


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