文档摘要

7.2.2 蒙特卡洛分析（Monte Carlo）与良率估算 在集成电路设计的深水区，良率不是靠祈祷得来的，而是用概率算出来的。 当一颗7纳米FinFET芯片上集成着250亿个晶体管，当关键栅极长度的工艺波动已逼近原子尺度（标准差仅0.3 nm），当互连层铜填充的空洞率在0.8%–1.2%之间随机游走——此时，任何基于“典型值+±3σ”的静态仿真都成了温柔的幻觉。 会员。《7.2.2 蒙特卡洛分析（Monte Carlo）与良率估算》收录于灏天文库文集《电子设计自动化（EDA）技术与算法》，提供技术教程、实践指南与问题解决方案，支持在线阅读、全文检索与知识沉淀，助力开发者系统化学习。文档编号64329。

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