文档摘要

7.2 故障模型与可测性设计 摘要：要测百亿门芯片的每个内部节点，光有向量不够，得让电路自己"把内脏亮出来"。本节从固定型故障（stuck-at）模型讲起，解释故障覆盖率的意义；展开扫描链设计如何把时序电路"拉平"成组合电路、ATPG 如何搜索激活并传播故障、MBIST 为什么是存储器测试的唯一解；用 Python 实现一个微型电路的 stuck-at 故障仿真与测试向量生成，体会可控制性与可观测性这对核心概念。 会员。《7.2 故障模型与可测性设计》收录于灏天文库文集《集成电路科学与工程》，原作者/来源：灏天文库，整理自「灏天文库」，提供技术教程、实践指南与问题解决方案，支持在线阅读、全文检索与知识沉淀，助力开发者系统化学习。本站整理收录，版权归原作者/开源协议所有。

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作者与出处

原作者： 灏天文库

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原文： https://aiknowledge.cn/collection/432-%E9%9B%86%E6%88%90%E7%94%B5%E8%B7%AF%E7%A7%91%E5%AD%A6%E4%B8%8E%E5%B7%A5%E7%A8%8B

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