文档摘要

7.1 功能测试与ATE机台 摘要：测试是芯片出厂的第一道闸门，也是一座按秒计费的工厂。本节看 ATE（自动测试设备）如何以皮秒级定时精度向芯片施加激励并比对响应；讲两级筛选（wafer sort 与成品测试）与分 bin 经济学；展开测试成本核算与并行测试（ multisite ）优化；用 Python 建一个测试时间与成本的模型，看"测试覆盖率"与"每秒烧掉的钱"如何拉扯。 会员。《7.1 功能测试与ATE机台》收录于灏天文库文集《集成电路科学与工程》，原作者/来源：灏天文库，整理自「灏天文库」，提供技术教程、实践指南与问题解决方案，支持在线阅读、全文检索与知识沉淀，助力开发者系统化学习。本站整理收录，版权归原作者/开源协议所有。

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作者与出处

原作者： 灏天文库

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