文档摘要

7.2 故障模型与诊断 7.2 故障模型与诊断：揭开芯片“病灶”的面纱 在集成电路的浩瀚疆域中，测试与可靠性犹如两座灯塔，照亮了从设计到量产的幽深航道。而故障模型与诊断，则是这航道中最精密、最富洞察力的一环——它不仅关乎芯片能否通过产线的严苛检验，更决定着其在真实世界中的生命长度与行为轨迹。当我们谈论一颗芯片“坏了”，我们究竟在说什么？是晶体管彻底失效，还是信号路径上出现了微妙偏移？是制造缺陷留下的隐疾，还是使用过程中渐进磨损的结果？ 会员。《7.2 故障模型与诊断》收录于灏天文库文集《集成电路科学与工程》，提供技术教程、实践指南与问题解决方案，支持在线阅读、全文检索与知识沉淀，助力开发者系统化学习。文档编号20152。

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