文档摘要

7.1 测试方法（功能测试、ATE） 第七章：IC测试与可靠性领域 7.1 测试方法：功能测试与自动测试设备（ATE） 集成电路的复杂性随着摩尔定律持续增长，从百万晶体管到百亿晶体管，从单一功能模块到系统级芯片（SoC），芯片设计规模呈指数扩张。随之而来的，是验证与测试难度的急剧攀升。在这样一个精密如微雕、庞大如城市电路网络的工程世界中，如何确保每一块晶圆、每一颗裸片、每一枚封装后的芯片都能稳定运行？答案藏于“测试”二字之中。 会员。《7.1 测试方法（功能测试、ATE）》收录于灏天文库文集《集成电路科学与工程》，提供技术教程、实践指南与问题解决方案，支持在线阅读、全文检索与知识沉淀，助力开发者系统化学习。文档编号20151。

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