3.2.3 平面电容效应:利用高频下的板间电容


文档摘要

3.2.3 平面电容效应:利用高频下的板间电容 在高速数字系统中,当信号边沿陡峭到皮秒量级、供电电流瞬态变化率 $ di/dt $ 超过 $ 10^5 \,\text{A/s} $,而电源引脚的封装电感动辄达 $ 0.3\,\text{nH} $ 以上时——一个常被忽略却致命的事实悄然浮现:芯片真正“喝到”的电压,并非来自VRM输出端,而是来自它脚下那两片紧贴的铜箔之间。这不是比喻,是麦克斯韦方程组在PCB叠层中写下的硬约束;这不是权宜之计,而是高频PDN设计的物理锚点;这更不是可有可无的“寄生效应”,而是我们主动调用、精密调控、工程化部署的平面电容(Plane Capacitance)。 你或许见过这样的场景:某款12nm AI加速器在2.


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