文档摘要

第 2 章 · 综合、DFT 与门级网表 章节摘要：可综合 RTL 仍是意图。本章把它翻译成带工艺库延迟的门级网表，并在网表里长出可观测、可控制的测试结构。标准单元是映射的字母表；约束是综合的考卷；扫描与 BIST 是给测试机台预留的神经通路。读完应能解释一份网表从何而来、时钟门控如何插入、卡住故障如何被扫描链送达输出。 会员。《第2章 综合DFT与门级网表》收录于灏天文库文集《VLSI超大规模集成电路设计》，原作者/来源：灏天文库，整理自「灏天文库」，提供技术教程、实践指南与问题解决方案，支持在线阅读、全文检索与知识沉淀，助力开发者系统化学习。本站整理收录，版权归原作者/开源协议所有。

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作者与出处

原作者： 灏天文库

来源：灏天文库

原文： https://aiknowledge.cn/collection/854-vlsi%E8%B6%85%E5%A4%A7%E8%A7%84%E6%A8%A1%E9%9B%86%E6%88%90%E7%94%B5%E8%B7%AF%E8%AE%BE%E8%AE%A1

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