文档摘要

4.2.3 内建自测试（BIST）与边界扫描（JTAG） 在数字系统设计的深水区，有一类技术，它不直接参与功能实现，却像嵌入芯片血脉中的“健康监测仪”与“远程诊疗接口”——它不生产结果，却守护结果的可信；它不执行算法，却为算法的每一次正确运行提供可验证的凭据。 会员。《4.2.3 内建自测试（BIST）与边界扫描（JTAG）》收录于灏天文库文集《VLSI超大规模集成电路设计》，提供技术教程、实践指南与问题解决方案，支持在线阅读、全文检索与知识沉淀，助力开发者系统化学习。文档编号62075。

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