文档摘要

7.2.3 老化效应 (Aging: NBTI/HCI) 与长期可靠性时序 在芯片设计的漫长生命周期里，时序收敛从来不是终点，而只是可靠性的起点。我们曾无数次在签核（sign-off）那一刻长舒一口气——静态时序分析（STA）通过了，路径裕量（slack）为正，电压降（IR-drop）在容限内，甚至多角（multi-corner）覆盖也看似滴水不漏。 会员。《7.2.3 老化效应 (Aging: NBTI/HCI) 与长期可靠性时序》收录于灏天文库文集《时序收敛与签核 (Static Timing Analysis)》，提供技术教程、实践指南与问题解决方案，支持在线阅读、全文检索与知识沉淀，助力开发者系统化学习。

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