7.2.2 测试成本：晶圆级自动化光电测试的复杂性

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7.2.2 测试成本：晶圆级自动化光电测试的复杂性在晶圆级自动化光电测试的现场，工程师常常面对这样一幕：探针台刚刚完成第127片晶圆的扎针定位，显微镜视野里那排32通道的VCSEL阵列正泛着微弱红光；测试软件界面上却突然弹出一条红色警告——“Channel 19: 光功率积分超时（T int =8.4ms，ΔP/P ref =−12.7%）”，紧接着是第二条：“Thermal drift compensation failed at T j ramp >0.85K/s”。