文集文档索引

• 物理验证（Calibre: DRC, LVS, PEX）
• 9.2 设计流程（Design Flow）
• 9.2.1 从指标定义（Spec）到流片（Tape-out）的全生命周期
• 9.3 混合信号集成趋势
• 9.3.1 数模混合信号（AMS）验证
• 9.3.2 系统级芯片（SoC）中的模拟IP集成
• 8.2.2 静电释放（ESD）保护电路设计
• 8.2.3 电迁移（EM）与天线效应（Antenna Effect）
• 8.3 后仿真与验证
• 8.3.1 蒙特卡洛（Monte Carlo）分析与失调仿真
• 8.3.2 工艺角（PVT Corners）分析：工艺、电压、温度
• 第9章：设计方法学与生态系统
• 9.1 EDA 工具链
• 9.1.1 原理图输入与电路仿真（Virtuoso, Spectre, HSPICE）
• 7.2.4 闪烁型（Flash ADC）：极致速度
• 第8章：物理实现、版图与可靠性
• 8.1 模拟版图设计（Layout）
• 8.1.1 匹配技术：质心对称（Common Centroid）与叉指结构
• 8.1.2 寄生参数控制：电阻、电容与电感提取
• 8.1.3 保护环（Guard Rings）与衬底噪声隔离
• 8.2 可靠性与鲁棒性设计
• 8.2.1 锁存效应（Latch-up）预防机制
• 7.2 模数转换器（ADC）
• 7.2.1 逐次逼近型（SAR ADC）：低功耗优势
• 7.2.2 流水线型（Pipelined ADC）：高速度平衡
• 7.2.3 Sigma-Delta（Σ-Δ）ADC：高精度与过采样理论
• 7.1 数模转换器（DAC）
• 7.1.1 性能指标：DNL、INL、单调性
• 7.1.2 架构：电阻分压型、电流源型、电荷分配型
• 6.1.1 电荷注入（Charge Injection）与时钟馈通（Clock Feedth...
• 6.1.2 采样失真与导通电阻补偿（传输门技术）
• 6.2 开关电容（SC）积分器与滤波器
• 6.2.1 离散时间信号处理基础
• 6.2.2 寄生不敏感型SC积分器
• 6.3 采样保持（S/H）电路
• 6.3.1 底板采样（Bottom-plate Sampling）技术
• 第7章：数据转换器（ADC/DAC）
• 5.2 比较器设计
• 5.2.1 开环比较器与动态比较器
• 5.2.2 再生反馈与迟滞（Hysteresis）设计
• 5.3 乘法器与振荡器基础
• 5.3.1 吉尔伯特单元（Gilbert Cell）
• 5.3.2 环形振荡器与LC振荡器初步
• 第6章：开关电容电路与采样系统
• 6.1 MOS开关特性
• 4.3 低电压与低功耗设计
• 4.3.1 轨到轨（Rail-to-Rail）输入输出技术
• 4.3.2 亚阈值区电路设计要点
• 第5章：带隙基准源与非线性电路
• 5.1 基准源设计（References）
• 5.1.1 与绝对温度成正比（PTAT）电流产生
• 5.1.2 带隙基准（Bandgap Reference）原理：CTAT与PTAT补偿
• 5.1.3 高阶曲率补偿技术
• 4.1.2 动态指标：单位增益带宽（GBW）、压摆率（SR）、建立时间
• 4.2 典型运放架构设计
• 4.2.1 两级运放（Two-Stage Op-Amp）设计流程
• 4.2.2 全差分运放（Fully Differential）与共模反馈（CMFB）
• 4.2.3 增益提升（Gain-Boosting）技术
• 第4章：运算放大器（Op-Amp）深度设计
• 4.1 运算放大器性能指标