4.2 可测试性设计（DFT）
文档摘要
4.2 可测试性设计（DFT） 4.2 可测试性设计（DFT）：在硅基世界中为“不可见”注入可观测性与可控性 当一颗7纳米FinFET芯片承载着超过150亿个晶体管，在每秒数十GHz的频率下悄然完成万亿次逻辑运算时，我们是否曾真正追问：若其中某个触发器在上电瞬间便悄然锁死、某条互连线因电迁移而渐进开路、某处标准单元因工艺偏差导致建立时间违例——谁来发现它？如何定位它？又凭什么相信它尚未失效，却仍被封装进价值数万美元的AI加速卡中？ 这不是一个哲学诘问，而是VLSI设计工程师每日直面的工程现实。随着工艺微缩逼近物理极限，晶体管行为愈发受量子隧穿、随机掺杂涨落、局部热应力等非理想效应支配；
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