文档摘要

4.2 可测试性设计（DFT） 4.2 可测试性设计（DFT）：在硅基世界中为“不可见”注入可观测性与可控性 当一颗7纳米FinFET芯片承载着超过150亿个晶体管，在每秒数十GHz的频率下悄然完成万亿次逻辑运算时，我们是否曾真正追问：若其中某个触发器在上电瞬间便悄然锁死、某条互连线因电迁移而渐进开路、某处标准单元因工艺偏差导致建立时间违例——谁来发现它？如何定位它？又凭什么相信它尚未失效，却仍被封装进价值数万美元的AI加速卡中？ 会员。《4.2 可测试性设计（DFT）》收录于灏天文库文集《VLSI超大规模集成电路设计》，原作者/来源：灏天文库，整理自「灏天文库」，提供技术教程、实践指南与问题解决方案，支持在线阅读、全文检索与知识沉淀，助力开发者系统化学习。本站整理收录，版权归原作者/开源协议所有。

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作者与出处

原作者： 灏天文库

来源：灏天文库

原文： https://aiknowledge.cn/collection/854-vlsi%E8%B6%85%E5%A4%A7%E8%A7%84%E6%A8%A1%E9%9B%86%E6%88%90%E7%94%B5%E8%B7%AF%E8%AE%BE%E8%AE%A1

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