4.2.1 故障模型（Stuck-at, Transition Fault）

文档摘要

4.2.1 故障模型（Stuck-at, Transition Fault）在数字电路的生命周期里，测试不是最后一道工序，而是贯穿设计、验证、制造与量产的呼吸节律。它无声却有力，像一位沉默的守夜人，在芯片尚未通电之前，就已为它的每一次逻辑跃迁预设了诊断路径。而可测试性设计（Design for Testability, DFT）——尤其是其基石：故障模型（Fault Model）——正是这位守夜人手中的第一把刻刀。它不雕刻功能，而雕刻可观测性与可控性；它不定义“该做什么”，而精确定义“当出错时，如何被看见”。我们聚焦于4.2.1节：故障模型（Stuck-at, Transition Fault）。这不是教科书式的概念复述，也不是工具菜单的罗列说明。