文档摘要

4.2.2 扫描链（Scan Chain）插入技术 扫描链（Scan Chain）插入技术，是可测试性设计（DFT）中最具实操性、也最“刀锋见血”的一环——它不像测试向量生成那样依赖抽象算法，也不像边界扫描那样偏重协议规范；它是一场在RTL与网表之间狭小缝隙中展开的精密外科手术：既要不动声色地缝合成千上万个触发器，又要确保缝线本身不干扰原始功能、不引入时序违例、不膨胀面积、不拖慢频率，还要让后续ATPG工具能顺滑地“拉出”整条链来逐位注… 会员。《4.2.2 扫描链（Scan Chain）插入技术》收录于灏天文库文集《VLSI超大规模集成电路设计》，提供技术教程、实践指南与问题解决方案，支持在线阅读、全文检索与知识沉淀，助力开发者系统化学习。文档编号62074。

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