1.2.3.1 注入、复合与产生机制（SRH复合、辐射复合、俄歇复合）

文档摘要

1.2.3.1 注入、复合与产生机制（SRH复合、辐射复合、俄歇复合） “俄歇复合——那个在高温下突然咬住你效率的幽灵” 一位功率器件可靠性工程师的凌晨三点手记凌晨2:47，实验室示波器上那条本该平滑下降的关断尾电流曲线，又一次在$150^\circ\text{C}$结温下诡异地翘起了尾巴。不是漂移，不是寄生电感震荡，也不是栅极驱动回路异常——它就那样，安静、固执、带着某种不容置疑的物理尊严，在$10^{-6}\,\text{s}$量级的时间窗口里，把我们的SiC MOSFET动态Rds(on)抬高了18%。客户测试报告里那句“高温下导通损耗恶化超出规格书3σ限值”，像一枚烧红的铆钉，钉在我刚改完的第7版热仿真边界条件上。