6.2.2 物理表征：TEM/EELS（原子级结构与成分分析）

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6.2.2 物理表征：TEM/EELS（原子级结构与成分分析）在透射电子显微镜（TEM）的浩瀚技术谱系中，EELS（电子能量损失谱，Electron Energy Loss Spectroscopy）不是TEM的附属配件，而是它最锋利的“原子级探针”——当一束高能电子穿过厚度仅0.5–2 nm的超薄样品时，其中约千分之一的电子会与样品内原子的内壳层电子发生非弹性散射，损失特定能量 $\Delta E$，其能量分布 $I(\Delta E)$ 恰如一份逐原子编码的量子指纹。